|
| Обозначение стандарта: | ГОСТ 19834.2-74 |
|
| Статус стандарта: | действующий |
|
| Название рус.: | Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости |
| | Название англ.: | Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance |
| |
| | Дата введения в действие: | 01.01.1976 |
| | Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения;
методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный |
| | Список изменений: | №1 от --1984-07-01 (рег. --1983-12-06) «Срок действия продлен»
№2 от --1987-10-01 (рег. --1987-06-01) «Срок действия продлен»
|
|
| c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартовc=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКАc=&f2=3&f1=II001031080&l='>31.080 Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045c=&f2=3&f1=II001031080099&l='>31.080.99 Полупроводниковые приборы прочиеc=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартовc=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связьc=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратурыc=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
|
|
