|
| Обозначение стандарта: | ГОСТ 19834.4-79 |
|
| Статус стандарта: | действующий |
|
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
| | Название англ.: | Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
| |
| | Дата введения в действие: | 01.07.1981 |
| | Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения |
| | Список изменений: | №1 от --1984-07-01 (рег. --1983-12-06) «Срок действия продлен»
№2 от --1987-01-01 (рег. --1986-06-27) «Поправка»
|
|
| c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартовc=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКАc=&f2=3&f1=II001031080&l='>31.080 Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045c=&f2=3&f1=II001031080010&l='>31.080.10 Диодыc=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартовc=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связьc=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратурыc=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
|
|
